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- WYJ-4XBD科研級三目暗場金相顯微鏡
科研級暗場金相顯微鏡WYJ-4XBD采用優(yōu)良的無限遠光學系統(tǒng)與多功能、模塊化的設(shè)計理念,帶有偏光裝置、暗場裝置,可實現(xiàn)偏光觀察、暗場觀察等功能。緊湊穩(wěn)定的高剛性主體,充分體現(xiàn)了顯微鏡操作的防振要求。符合人機工程學要求的理想設(shè)計,使操作更方便舒適,空間更廣闊。適用于薄片試樣的金相、礦相、晶體、硅片、電路基板、FPD等結(jié)構(gòu)分析和研究,或用于觀察材料表面特性,如:劃痕、裂紋、噴涂的均勻性等分析研究。
- 型號:WYJ-4XBD
- 更新日期:2024-09-13 ¥面議
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- WYJ-55BD三目暗場金相顯微鏡
三目暗場金相顯微鏡WYJ-55BD采用優(yōu)良的無限遠光學系統(tǒng)與多功能、模塊化的設(shè)計理念,帶有偏光裝置、暗場裝置,可實現(xiàn)偏光觀察、暗場觀察等功能。緊湊穩(wěn)定的高剛性主體,充分體現(xiàn)了顯微鏡操作的防振要求。符合人機工程學要求的理想設(shè)計,使操作更方便舒適,空間更廣闊。適用于薄片試樣的金相、礦相、晶體、硅片、電路基板、FPD等結(jié)構(gòu)分析和研究,或用于觀察材料表面特性,如:劃痕、裂紋、噴涂的均勻性等分析研究。
- 型號:WYJ-55BD
- 更新日期:2024-09-13 ¥面議
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